Optical and Structural Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in SiOx Matrix Obtained by HWCVD
المؤلفون المشاركون
Coyopol, A.
García-Salgado, G.
Díaz-Becerril, T.
Juárez, H.
Rosendo, E.
López, R.
Pacio, M.
Luna-López, J. A.
Carrillo-López, J.
المصدر
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-7، 7ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-07-26
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
7
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
The interest in developing optoelectronic devices integrated in the same silicon chip has motivated the study of Silicon nanocrystals (Si-ncs) embedded in SiOx (nonstoichiometric silicon oxides) films.
In this work, Si-ncs in SiOx films were obtained by Hot Wire Chemical Vapor Deposition (HWCVD) at 800, 900, and 1000°C.
The vibration modes of SiOx films were determined by FTIR measurements.
Additionally, FTIR and EDAX were related to get the proper composition of the films.
Micro-Raman studies in the microstructure of SiOx films reveal a transition from amorphous-to-nanocrystalline phase when the growth temperature increases; thus, Si-ncs are detected.
Photoluminescence (PL) measurement shows a broad emission from 400 to 1100 nm.
This emission was related with both Si-ncs and interfacial defects present in SiOx films.
The existence of Si-ncs between 3 and 6 nm was confirmed by HRTEM.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Coyopol, A.& García-Salgado, G.& Díaz-Becerril, T.& Juárez, H.& Rosendo, E.& López, R.…[et al.]. 2012. Optical and Structural Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in SiOx Matrix Obtained by HWCVD. Journal of Nanomaterials،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-997617
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Coyopol, A.…[et al.]. Optical and Structural Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in SiOx Matrix Obtained by HWCVD. Journal of Nanomaterials No. 2012 (2012), pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-997617
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Coyopol, A.& García-Salgado, G.& Díaz-Becerril, T.& Juárez, H.& Rosendo, E.& López, R.…[et al.]. Optical and Structural Properties of Silicon Nanocrystals Embedded in SiOx Matrix Obtained by HWCVD. Journal of Nanomaterials. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-7.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-997617
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-997617
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر