X-Ray Reflectometry Study of Self-Assembled Ionic Nanolayers
المؤلفون المشاركون
Jasiecki, Szymon
Serafińczuk, Jarosław
Gotszalk, Teodor
Schroeder, Grzegorz
المصدر
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-5، 5ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-03-25
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
5
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
The self-assembly technique has been applied for the fabrication of thin films including macrocyclic molecules.
These multilayered structures, grown by sequential deposition of oppositely charged molecules, were characterised with X-ray reflectometry.
The data obtained indicate regular thickness of ion pair layers formed regardless of the number of depositions made as well as the number of ion groups occurring in the molecule.
Savitzky-Golay algorithm was used for the calculation of the layer thickness.
Formation of self-assembled multilayers (SAMs) occurs not only for polymeric structures but also for small ionic compound systems and results from the electrostatic interaction of many strongly dissipated charges on the whole structure of the molecule.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Jasiecki, Szymon& Serafińczuk, Jarosław& Gotszalk, Teodor& Schroeder, Grzegorz. 2012. X-Ray Reflectometry Study of Self-Assembled Ionic Nanolayers. Journal of Nanomaterials،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-998247
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Jasiecki, Szymon…[et al.]. X-Ray Reflectometry Study of Self-Assembled Ionic Nanolayers. Journal of Nanomaterials No. 2012 (2012), pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-998247
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Jasiecki, Szymon& Serafińczuk, Jarosław& Gotszalk, Teodor& Schroeder, Grzegorz. X-Ray Reflectometry Study of Self-Assembled Ionic Nanolayers. Journal of Nanomaterials. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-5.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-998247
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-998247
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر