Luminescence Properties of Si Nanocrystals Fabricated by Ion Beam Sputtering and Annealing
المؤلفون المشاركون
Kim, Sung
Shin, Dong Hee
Shin, Dong Yeol
Kim, Chang Oh
Park, Jae Hee
Yang, Seung Bum
Choi, Suk-Ho
Yoo, Seung Jo
Kim, Jin-Gyu
المصدر
العدد
المجلد 2012، العدد 2012 (31 ديسمبر/كانون الأول 2012)، ص ص. 1-8، 8ص.
الناشر
Hindawi Publishing Corporation
تاريخ النشر
2012-03-20
دولة النشر
مصر
عدد الصفحات
8
التخصصات الرئيسية
الملخص EN
During the past several decades, Si nanocrystals (NCs) have received remarkable attention in view of potential optoelectronic device applications.
This paper summarizes recent progress in the study of luminescence from Si NCs, such as photoluminescence (PL), cathodoluminescence, time-solved PL, and electroluminescence.
The paper is especially focused on Si NCs produced by ion beam sputtering deposition of SiOx single layer or SiOx/SiO2 multilayers and subsequent annealing.
The effects of stoichiometry (x) and thickness of SiOx layers on the luminescence are analyzed in detail and discussed based on possible mechanisms.
نمط استشهاد جمعية علماء النفس الأمريكية (APA)
Kim, Sung& Shin, Dong Hee& Shin, Dong Yeol& Kim, Chang Oh& Park, Jae Hee& Yang, Seung Bum…[et al.]. 2012. Luminescence Properties of Si Nanocrystals Fabricated by Ion Beam Sputtering and Annealing. Journal of Nanomaterials،Vol. 2012, no. 2012, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-998251
نمط استشهاد الجمعية الأمريكية للغات الحديثة (MLA)
Kim, Sung…[et al.]. Luminescence Properties of Si Nanocrystals Fabricated by Ion Beam Sputtering and Annealing. Journal of Nanomaterials No. 2012 (2012), pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-998251
نمط استشهاد الجمعية الطبية الأمريكية (AMA)
Kim, Sung& Shin, Dong Hee& Shin, Dong Yeol& Kim, Chang Oh& Park, Jae Hee& Yang, Seung Bum…[et al.]. Luminescence Properties of Si Nanocrystals Fabricated by Ion Beam Sputtering and Annealing. Journal of Nanomaterials. 2012. Vol. 2012, no. 2012, pp.1-8.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-998251
نوع البيانات
مقالات
لغة النص
الإنجليزية
الملاحظات
Includes bibliographical references
رقم السجل
BIM-998251
قاعدة معامل التأثير والاستشهادات المرجعية العربي "ارسيف Arcif"
أضخم قاعدة بيانات عربية للاستشهادات المرجعية للمجلات العلمية المحكمة الصادرة في العالم العربي
تقوم هذه الخدمة بالتحقق من التشابه أو الانتحال في الأبحاث والمقالات العلمية والأطروحات الجامعية والكتب والأبحاث باللغة العربية، وتحديد درجة التشابه أو أصالة الأعمال البحثية وحماية ملكيتها الفكرية. تعرف اكثر