Reparation and properties of nanostructure zinc oxide thin films
Other Title(s)
تحضير و دراسة خواص التركيب النانوي لأغشية أوكسيد الخارصين الرقيقة
Joint Authors
Said, Nada Muhammad
Suhayl, Abd Allah Muhsin
Source
Issue
Vol. 7, Issue 8 (30 Apr. 2009), pp.75-81, 7 p.
Publisher
University of Baghdad College of Science
Publication Date
2009-04-30
Country of Publication
Iraq
No. of Pages
7
Main Subjects
Topics
Abstract AR
يعتبر أكسيد الخارصين (ZnO) نموذج من إحدى أشباه الموصلات ضمن المجموعة II-VI و التي لها مدى واسع في التركيب النانومتري (Nanostructures).
في هذا البحث، تم تحضير أغشية رقيقة من أكسيد الخارصين المتعدد التبلور على أرضية زجاجية بدرجة حرارة أساس 400℃ و ذلك باستعمال تقنية الرش الكيماوي الحراري، تم تحضير محلول الرش من كلوريد الخارصين بمولارية مقداره 0.1 M / L.
تم دراسة و مناقشة خواص و تركيب الأغشية المحضرة حيث تم فحص الأغشية المحضرة بواسطة حيود الأشعة السينية و من تحليل النتائج تبين أن جميع الأغشية المحضرة هي نوع متعددة التبلور.
(Polycrystalline)، تم حساب الحجم الحبيبي لها عند الاتجاه (002) و كانت قيمته 27.9.
و من دراسة الخواص الكهربائية (و التي شملت قياسات تأثير هول و التوصيلية الكهربائية) تبين بأن الغشاء نوع n-type.
تم دراسة الخواص البصرية لأغشية ZnO باستعمال مطياف يعمل ضمن الأطوال الموحية المرئية و فوق البنفسجية VIS-UV.
اشتملت دراسة الخواص البصرية على تسجيل طيفي الامتصاصية و النفاذية للأغشية المحضرة لمدى الأطوال الموحية 300-1100 nm، أظهرت الدراسة البصرية بأن معدل النفاذية يقترب من 55 % عند المدى المرئي.
تم حساب معامل الانكسار كدالة لطاقة الفوتون عند الأطوال الموحية المذكورة.
تم أيضا حساب قيم فجوة الطاقة البصرية و كانت قيمتها للانتقال الإلكتروني المباشر المسموح 3.3 eV و للانتقال الإلكتروني الغير مباشر 3.1 eV.
Abstract EN
Zinc Oxide (ZnO) is probably the most typical II-VI semiconductor, which exhibits a wide range of nanostructures.
In this paper, polycrystalline ZnO thin films were prepared by chemical spray pyrolysis technique, the films were deposited onto glass substrate at 400 °C by using aqueous zinc chloride as a spray solution of molar concentration of 0.1 M / L.
The crystallographic structure of the prepared film was analyzed using X-ray diffraction ; the result shows that the film was polycrystalline, the grain size which was calculated at (002) was 27.9 nm.
The Hall measurement of the film studied from the electrical measurements show that the film was n-type.
The optical properties of the film were studied using measurements from VISUV spectrophotometer at wavelength range (300-1100) nm ; the optical characterization shows that the films have an average transmittance 55 % in the VIS regions.
The refractive index was calculated as a function of the photon energy, also the calculated optical energy gap was 3.3 eV and 3.1 eV for direct and indirect allowed transition respectively.
American Psychological Association (APA)
Said, Nada Muhammad& Suhayl, Abd Allah Muhsin. 2009. Reparation and properties of nanostructure zinc oxide thin films. Iraqi Journal of Physics،Vol. 7, no. 8, pp.75-81.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-338102
Modern Language Association (MLA)
Said, Nada Muhammad& Suhayl, Abd Allah Muhsin. Reparation and properties of nanostructure zinc oxide thin films. Iraqi Journal of Physics Vol. 7, no. 8 (2009), pp.75-81.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-338102
American Medical Association (AMA)
Said, Nada Muhammad& Suhayl, Abd Allah Muhsin. Reparation and properties of nanostructure zinc oxide thin films. Iraqi Journal of Physics. 2009. Vol. 7, no. 8, pp.75-81.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-338102
Data Type
Journal Articles
Language
English
Notes
Includes bibliographical references : p. 81
Record ID
BIM-338102