SIMS analysis study of the all Nb SIS junction
Other Title(s)
SIMS دراسة تحليلية لموصل كهربائي بواسطة جهاز
Author
Source
Journal of King Abdulaziz University : Sciences
Issue
Vol. 13, Issue 1 (30 Jun. 2001), pp.99-110, 12 p.
Publisher
King Abdulaziz University Scientific Publishing Center
Publication Date
2001-06-30
Country of Publication
Saudi Arabia
No. of Pages
12
Main Subjects
Topics
Abstract AR
يقدم هذا البحث دراسة تجريبية لموصل كهربائي مصنع من المواد الفائقة التوصيل مكون من قطبين مفصولين عن بعضهما بعازل، و أجريت دراسة على هذه الأقطاب بواسطة جهاز SIMS.
و نتيجة لذلك تبين أن هناك انتشارا للمادة العازلة إلى القطب العلوي، و قد أوضحت هذه الدراسة تأثير ذلك الانتشار على هذه الأنواع من الموصلات الكهربائية.
Abstract EN
This work presents an experimental investigation of SIS junctions when a thin insulator layer (AlOx) is introduced between the two superconductor electrodes.
The SIMS analysis technique showed the diffusivity effect of the AlOx as barrier onto the top electrode.
The experimental results determine the effect of the AlOx on the device performances.
A general explanation and discussion of this effect has been presented
American Psychological Association (APA)
al-Marzuqi, Fahd Masud. 2001. SIMS analysis study of the all Nb SIS junction. Journal of King Abdulaziz University : Sciences،Vol. 13, no. 1, pp.99-110.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-370558
Modern Language Association (MLA)
al-Marzuqi, Fahd Masud. SIMS analysis study of the all Nb SIS junction. Journal of King Abdulaziz University : Sciences Vol. 13, no. 1 (2001), pp.99-110.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-370558
American Medical Association (AMA)
al-Marzuqi, Fahd Masud. SIMS analysis study of the all Nb SIS junction. Journal of King Abdulaziz University : Sciences. 2001. Vol. 13, no. 1, pp.99-110.
https://search.emarefa.net/detail/BIM-370558
Data Type
Journal Articles
Language
English
Notes
Includes bibliographical references : p. 108-109
Record ID
BIM-370558
